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時分割X線回折像から粒子の回転を調べる新規手法に関する論文がNano Lettersに掲載されました
Publication:Fluctuation of Time-Resolved X-ray Diffraction Reveals the Rotational Dynamics of Nanoparticles in Polymer Materials

Date: 2025.09.14

新井達也助教が執筆した論文がNano Lettersに掲載されました。
東京大学、高輝度光科学研究センター(SPring-8)と共同研究を行った”高分子材料中のナノ粒子のダイナミクスを時分割X回折で計測する手法”に関する研究についての論文です。
https://pubs.acs.org/doi/10.1021/acs.nanolett.5c03840

この論文では、 X線回折強度の揺らぎを自己相関関数で解析することでナノ粒子の回転運動を推定する新しい手法「Diffracted X-ray Blinking(DXB)法」を、さまざまな高分子材料中のナノ粒子に適用しました。
この手法により、材料の粘弾性や温度に応じたナノ粒子の回転運動の違いを明確に捉えることに世界で初めて成功しました。
今回の成果は、高分子材料の粘弾性や相転移の機構をナノスケールで評価する新しい手法を提示するものであり、今後の高分子材料研究や新素材開発への大きな貢献が期待されます。